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| 偏光熔點(diǎn)儀（熱臺(tái)）：XPR-300D
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一、儀器的主要用途和特點(diǎn)
XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀（熱臺(tái)）是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化
學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門(mén)和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)最常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來(lái)觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測(cè)量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過(guò)程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識(shí)別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前較領(lǐng)先技術(shù)，多年研究開(kāi)發(fā)的結(jié)果，在國(guó)內(nèi)較領(lǐng)先.本儀器的具有可擴(kuò)展性，可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對(duì)圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。
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| 二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo) |
1.顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
| 名稱
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規(guī)格
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| 總放大倍數(shù)： |
40X---630X |
| 無(wú)應(yīng)力消色差物鏡 |
4X/0.1 |
| 10X/0.25 |
| 25X/0.40 |
| 40X/0.65彈簧 |
| 63X/0.85彈簧 |
| 目鏡 |
10X十字目鏡 |
| 10X分劃目鏡 |
| 試片 |
石膏1λ試片 |
| 云母1/4λ試片 |
| 石英楔子試片 |
| 測(cè)微尺 |
0.01mm |
| 濾色片 |
藍(lán)色 |
| 帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺 |
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| 移動(dòng)尺 |
移動(dòng)范圍30mm×40mm |
| 鏡筒 |
三目觀察 |
2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):
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熱臺(tái)組成 |
性能 |
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顯微精密控溫儀 |
在20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到最高300
℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動(dòng)控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定，
30段溫度編程，循環(huán)操作，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時(shí)間，升溫速率可調(diào)、精度
± 0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù) |
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顯微加熱平臺(tái) |
可以隨載物臺(tái)移動(dòng)、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于±
0.1
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起始溫度室溫
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工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
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工作區(qū)溫度梯度不超過(guò) ± 0.1
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透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
•
顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過(guò)
± 0.2
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熱臺(tái)可以隨載物臺(tái)移動(dòng)
在加熱狀態(tài)下最高可使用 20倍物鏡 |
注意：熔點(diǎn)測(cè)定（溫度超過(guò)100度時(shí)，25X的物鏡工作距離
太近，容易損壞鏡頭，請(qǐng)選用長(zhǎng)工作距離的物鏡25X、40X的物鏡） |
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| 三、系統(tǒng)數(shù)字性 |
| XPR-500D型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、尖端的數(shù)碼成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。可以在數(shù)碼相機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對(duì)偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或沖印偏光圖片。 |
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| 四、系統(tǒng)組成 |
1、偏光顯微鏡XP-300
2、數(shù)碼適配鏡
3、彩色數(shù)碼相機(jī)
4、熱臺(tái) |
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| 五、選購(gòu)部分 |
| 1.偏光分析軟件 |
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